蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)

三軸聯(lián)動與五軸聯(lián)動

當(dāng)下個零件擺放到工作臺上，但其姿態(tài)方位與前一個零件不一致時，之前的測頭角度可能會不再適用。因此，在做批量測量時，我們對于零件的位置、姿態(tài)方位都有一定程度的要求。而對于五軸系統(tǒng)，這方面的要求會寬松得多，測頭的無級分度特性使得測頭能夠根據(jù)零件坐標(biāo)系的找正作出相應(yīng)調(diào)整，避免了出現(xiàn)測頭角度不適用的情形。

接觸式測頭與光學(xué)測頭

對于表面數(shù)字化，其目的是要獲取零件表面輪廓，這就需要大量獲取輪廓的空間點坐標(biāo)。而對于接觸式測頭來說，一個一個點逐次獲取的方式是無法勝任百萬數(shù)量級點數(shù)的要求的，哪怕是連續(xù)掃描測頭，也只是通過測頭不離開零件表面的方式來提高取點速度，本質(zhì)上還是單點采集。這類應(yīng)用當(dāng)中，線光源和面光源測頭就很好彌補(bǔ)了接觸式測頭的不足，線掃描測頭通過一條由若干點的激光在工件表面移動，即可掃描出一片區(qū)域;而面拍照測頭則是通過一組編碼的光線柵格，一次性獲取一個特定大小區(qū)域內(nèi)的點云。

三坐標(biāo)測頭

光學(xué)測頭相比接觸式測頭還有另一方面的優(yōu)勢。接觸式測頭采點時，測頭記錄的是測球中心的空間坐標(biāo)，然后根據(jù)測球半徑來進(jìn)行補(bǔ)償，得出實際點的坐標(biāo)。但當(dāng)測量特定位置的三維曲線時，如果不按照測點的法線方向去采點，會存在半徑補(bǔ)償余弦誤差;而如果按照測點的法線方向去采點，又會產(chǎn)生實際測點位置出現(xiàn)偏差的情況。這種情形在測量透平葉片時尤為常見。