直讀光譜儀的校準(zhǔn)手段有哪些?

A 光譜儀的校準(zhǔn)如下：

描跡是對(duì)光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行的校準(zhǔn)。這是校準(zhǔn)的首要前提。在此條件下可進(jìn)行如下校準(zhǔn)： 標(biāo)準(zhǔn)化即再校準(zhǔn)工作曲線，然后可用到的校準(zhǔn)方法有：

(1)、修改持久工作曲線法（修改標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)）

(2)、控樣法；

(3)、類型標(biāo)準(zhǔn)化法。

B (1).機(jī)械校準(zhǔn)

(2).光學(xué)校準(zhǔn)

(3).電氣校準(zhǔn)

(4).軟件校準(zhǔn)

C我覺得校準(zhǔn)應(yīng)該是包括硬件校準(zhǔn)和軟件校準(zhǔn)。

硬件包括狹縫校準(zhǔn)、入射窗口清潔、負(fù)高壓系統(tǒng)、光電轉(zhuǎn)換等。這是儀器正常工作的先覺條件。

軟件包括：完全標(biāo)準(zhǔn)化，類型標(biāo)準(zhǔn)化（控樣校準(zhǔn)）等。完全標(biāo)準(zhǔn)化是用于校正儀器的漂移而引起的工作曲線的變化。而控樣校準(zhǔn)可以修正樣品冶煉方式與工作曲線（即與做工作曲線的標(biāo)樣的冶煉方式的差異）。

儀器的校準(zhǔn)應(yīng)先由硬件開始，然后才是軟件。

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直讀光譜儀器的誤差來源有哪些？

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1)系統(tǒng)誤差也叫可測(cè)誤差，一般包括儀器的本身波動(dòng)；樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測(cè)方法不一致，這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)有方法上的差異；同一種方法的檢測(cè)結(jié)果也存在一定的波動(dòng)）；待測(cè)樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。

2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差，鋼材檢測(cè)火花直讀光譜儀價(jià)格，如試樣不均勻；檢測(cè)時(shí)周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。

3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不準(zhǔn)確，北京火花直讀光譜儀價(jià)格，樣品前處理不符合要求，等離子火花直讀光譜儀價(jià)格，控樣和待測(cè)試樣存在制樣偏差，選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。

影響直讀光譜儀分析質(zhì)量的因素

激發(fā)臺(tái)       

清洗激發(fā)臺(tái)的內(nèi)表面，金屬檢測(cè)火花直讀光譜儀價(jià)格，主要是避免殘留內(nèi)壁的粉塵放電影響分析結(jié)果。通常每激發(fā)100—200次應(yīng)清理一次。電極與激發(fā)面之間的距離，必須按極距要求調(diào)整好，如果與激發(fā)面的距離太大，試樣不易激發(fā)，如果電極與激發(fā)面的距離太小，曝光時(shí)放電電流太大，以至于與儀器各參數(shù)不相匹配，使測(cè)定結(jié)果與實(shí)際結(jié)果之間有差異，影響測(cè)定的準(zhǔn)確性。因此必須將電極與激發(fā)面的距離調(diào)整準(zhǔn)確，清洗激發(fā)臺(tái)和電極后一定要重視這個(gè)問題。

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