在 GJB 360B—2009《電子及電氣元件試驗方法》中涉及高溫試驗的有“高溫壽命試驗”，其試驗?zāi)康氖怯糜诖_定試驗樣品在高溫條件下工作一段時間后，高溫對試驗樣品的電氣和機械性能的影響，從而對試驗樣品的質(zhì)量做出評定。在 GJB 128A—1997《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》中涉及高溫試驗的有“高溫壽命（非工作）”和“高溫壽命（非工作）（抽樣方案）”兩種試驗，前者的試驗的目的是用于確定器件在承受規(guī)定的高溫條件下是否符合規(guī)定的失效率，后者的試驗?zāi)康氖怯糜诖_定器件在承受規(guī)定的條件下是否符合規(guī)定的抽樣方案。高低溫箱的箱體采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，使用簡單操作方便。電子元器件在高溫環(huán)境中，其冷卻條件惡化，散熱困難，將使器件的電參數(shù)發(fā)生明顯變化或絕緣性能下降。例如，在高溫條件下，存在于半導(dǎo)體器件芯片表面及管殼內(nèi)的雜質(zhì)加速反應(yīng)，促使沾污嚴重的產(chǎn)品加速退化。此外，高溫條件對芯片的體內(nèi)缺陷、硅氧化層和鋁膜中的缺陷以及不良的裝片、鍵合工藝等也有一定的檢驗效果。GJB 150《設(shè)備環(huán)境試驗條件》是設(shè)備環(huán)境試驗標(biāo)準，它規(guī)定了統(tǒng)一的環(huán)境試驗條件或等級，用以評價設(shè)備適應(yīng)自然環(huán)境和誘發(fā)環(huán)境的能力，適用于設(shè)備研制、生產(chǎn)和交付各階段，是制定有關(guān)設(shè)備標(biāo)準和技術(shù)文件的基礎(chǔ)和選用依據(jù)。

直接的一個環(huán)節(jié)就是檢測與計量。有廠內(nèi)檢測計量與第三方檢測計量。每次我們調(diào)試人員去交機的時候，客戶都會問，這里面真的有-60度嗎？真的有-40度嗎？那么我們會出示我們廠內(nèi)的檢測報告，數(shù)據(jù)說明一切。如果客戶對廣郡廠內(nèi)的檢測報告有質(zhì)疑，需要的檢測計量報告時，那么我們會聯(lián)系第三方在客戶現(xiàn)場計量。如果客戶對廣郡廠內(nèi)的檢測報告有質(zhì)疑，需要的檢測計量報告時，那么我們會聯(lián)系第三方在客戶現(xiàn)場計量。這樣更有說服力，實驗室是一個嚴謹?shù)牡胤剑O(shè)備更是一個科學(xué)的儀器，只有設(shè)備提供準備，正確的數(shù)據(jù)，我們的試驗結(jié)果才有參考價值。才能發(fā)貨試驗設(shè)備的功效。

故障自檢試驗箱在使用過程中，出現(xiàn)以下現(xiàn)象屬于正常現(xiàn)象，請放心使用。

1.設(shè)備在使用過程中，水管變黃，水箱內(nèi)有水銹，是由于水長時間在空氣中氧化產(chǎn)生的水銹，屬于正?，F(xiàn)象。用水清洗干凈即可。（試驗用水一定要用純凈水或蒸餾水）

2.環(huán)境溫度過高時，降溫速度相對較慢些，屬于正?，F(xiàn)象。

3.本試驗箱在剛開始一周內(nèi)做高溫時有煙霧及異味排除均屬正?，F(xiàn)象，因為試驗箱在制造時，使用的鋼板上面有潤滑油，所以新的試驗箱在剛開始使用高溫時會產(chǎn)生油煙被烤產(chǎn)生的異味， 屬正?，F(xiàn)象。

4.設(shè)備超壓是因為環(huán)境溫度過高，請把環(huán)境溫度控制在5~28℃之間，相對濕度小于85%的場所，即可。

運轉(zhuǎn)前之檢查

1.電源及接地線之確認 電源進線線徑必須等于大于要求線徑，否則設(shè)備在運行過程中負載嚴重，很容易引起負載燒壞。

2.電源線是否依照規(guī)格妥善連接，并確認接地。

3.檢查超溫保護器，是否設(shè)定已好（出廠時已調(diào)好，一般無需調(diào)整）