一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

工業(yè)X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無(wú)損、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，已在冶金、建材、地質(zhì)、環(huán)保、商檢、考古、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域得到迅速推廣和應(yīng)用。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。近幾年來(lái)X射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測(cè)量中應(yīng)用越來(lái)越廣泛。眾所周知，產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品質(zhì)量與性能相關(guān)的重要指標(biāo)。實(shí)驗(yàn)表明使用同位素X射線熒光分析方法，能夠滿(mǎn)足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無(wú)損、在線、簡(jiǎn)便快速、可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制等特點(diǎn)。

一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測(cè)量面積0.002m㎡  深凹槽20mm以上

鍍層厚度分析儀使用注意事項(xiàng)

1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個(gè)已接地的插座上。

2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩(wěn)壓電源。計(jì)算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源（UPS）。

3．鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場(chǎng)合隔離開(kāi)來(lái)。

4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環(huán)境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過(guò)程中，環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定。

5．儀器曝曬在陽(yáng)光下時(shí)溫度極易超過(guò)50℃。所以請(qǐng)不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器，以避免高溫對(duì)儀器造成損害。

6．為避免短路，嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸。如果液體進(jìn)入儀器，請(qǐng)立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請(qǐng)技術(shù)人員整體檢查儀器。

7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場(chǎng)合。

8．不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片，否則會(huì)造成讀數(shù)錯(cuò)誤。

9．不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物。如果必要的話(huà)，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。

X熒光鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片選擇與使用

1．一般要求

   使用可靠的參考標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器。后的測(cè)量不確定度直接取決于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊的測(cè)量不確定度和測(cè)量精度。

   參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應(yīng)知其組成。參考標(biāo)準(zhǔn)塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過(guò)規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標(biāo)準(zhǔn)塊，將是可靠的。二．磁感應(yīng)測(cè)量原理鍍層厚度分析儀采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。合金組成的測(cè)定，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不需要相同，但應(yīng)當(dāng)已知。

金屬箔標(biāo)準(zhǔn)片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標(biāo)準(zhǔn)片，就必須注意確保接觸清潔，無(wú)皺折紐結(jié)。任何密度差異，除非測(cè)量允許，否則必須進(jìn)行補(bǔ)償后再測(cè)。

2．標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇

可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來(lái)校正。只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標(biāo)準(zhǔn)塊，將是可靠的。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測(cè)試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對(duì)試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測(cè)試樣基材不同，但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3．標(biāo)準(zhǔn)塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用

   校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測(cè)覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測(cè)試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過(guò)比較被測(cè)試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強(qiáng)度，然后通過(guò)軟件達(dá)到對(duì)儀器的校正。

      江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X熒光光譜儀原理及應(yīng)用領(lǐng)域

一、簡(jiǎn)單原理

      每個(gè)元素受高能輻射激發(fā)，即發(fā)射出具有一定特征的X射線譜線。通過(guò)軟件測(cè)試分析得出該譜線波長(zhǎng)，即可知道是那種元素（定性）；通過(guò)分析測(cè)試其強(qiáng)度，得出該元素含量（定量）。X熒光光譜分析是一種非常常見(jiàn)的分析技術(shù)，

二、應(yīng)用領(lǐng)域

     X熒光光譜儀作為一種常見(jiàn)的分析技術(shù)手段，在現(xiàn)實(shí)生活中有著非常廣泛的應(yīng)用，主要可以分為以下四大類(lèi)：

1.鍍層行業(yè)

     電鍍行業(yè)尤其以工業(yè)電鍍?yōu)橹鳎诠I(yè)生產(chǎn)中，通常我們?yōu)榱水a(chǎn)品尤其是金屬類(lèi)能達(dá)到一定的性能會(huì)在其表面鍍上另一種金屬，這種金屬電鍍的膜厚往往是受管控，而X熒光光譜儀就是其best的管控者。

2.重金屬檢測(cè)

      我們的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等這些都跟我們有著緊密的關(guān)聯(lián)，但這其中也許就含有對(duì)我們?nèi)梭w是有害的重金屬，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等長(zhǎng)期接觸會(huì)導(dǎo)致人體的病變甚至，為了使用安全，工業(yè)生產(chǎn)時(shí)需對(duì)產(chǎn)品重金屬檢測(cè)管控（RoHS檢測(cè)），而X熒光儀器就能對(duì)其進(jìn)行監(jiān)測(cè)。EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

3.元素成分分析

      元素成分分析應(yīng)用也是更加廣泛，如巖石礦產(chǎn)的開(kāi)發(fā)開(kāi)采，鋼鐵、銅合金、鋁合金等可能因某一種元素的含量不同就會(huì)大大改變其物理性質(zhì)，為達(dá)到這種物理性質(zhì)就需要控制相關(guān)元素的含量，通過(guò)X熒光儀器的檢測(cè)就可以很好的生產(chǎn)出我們所需的物品，另外還可以利用成分分析原理對(duì)珠寶首飾進(jìn)行真假鑒定。由于X光具有一定的波長(zhǎng)，同事又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有2種基本類(lèi)型：波長(zhǎng)色散型（WD）和能量色散性（ED）。

4.古董的檢測(cè)

     X熒光儀器在古董的檢測(cè)鑒定上也起著重要的作用，通過(guò)儀器檢測(cè)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行定性分析可得其元素成分，從而對(duì)產(chǎn)品的年限進(jìn)行一個(gè)判斷，得出結(jié)論。