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發(fā)布時(shí)間:2021-01-15 12:50  
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一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息,通過(guò)對(duì)X射線熒光的分析確定被測(cè)樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層度適應(yīng)范圍為15℃至30℃鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)分析含量一般為2ppm到99。由原子物理學(xué)的知識(shí),對(duì)每一種化學(xué)元素的原子來(lái)說(shuō),都有其特定的能級(jí)結(jié)構(gòu),其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,成為自由電子,這時(shí)原子被激發(fā)了,處于激發(fā)態(tài)。此時(shí),其他的外層電子便會(huì)填補(bǔ)這一空位,即所謂的躍遷,同時(shí)以發(fā)出X射線的形式放出能量。
由于每一種元素的原子能級(jí)結(jié)構(gòu)都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。通過(guò)測(cè)定特征X射線的能量,便可以確定相應(yīng)元素的存在,而特征X射線的強(qiáng)弱(或者說(shuō)X射線光子的多少)則代表該元素的含量。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀
一六儀器 X熒光光譜測(cè)厚儀
鍍層分析X射線熒光光譜特點(diǎn)
1.鍍層分析快速、無(wú)損,對(duì)樣品無(wú)需任何處理。一般測(cè)試一個(gè)點(diǎn)只需要數(shù)10S-1分鐘,分析精度高。
2.可測(cè)試超薄的鍍層。
3.可測(cè)試多鍍層,分析精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測(cè)量方法。
4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定,選擇合適的對(duì)比分析樣品,就可以準(zhǔn)確的分析出合金鍍層的厚度。
5.對(duì)于樣品可進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量,適合分析鍍層的厚度分布情況,并可以對(duì)樣品的復(fù)雜面進(jìn)行測(cè)量。
6.對(duì)分析的多鍍層每層之間的材料,要求有明顯的區(qū)別
7.不可以測(cè)試超厚樣品,普通金屬鍍層總厚度一般不超過(guò)40微米。
8.可以對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試
9.屬于對(duì)比分析儀器,測(cè)試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標(biāo)樣
江蘇一六儀器 X熒光光譜測(cè)厚儀 特點(diǎn)
快速:1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度,并達(dá)到測(cè)量精度要求。
方便:X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國(guó)際上先進(jìn)的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器,能量分辨率更優(yōu)于135eV,測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補(bǔ)充液氮,操作使用更加方便,并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
無(wú)損:測(cè)試前后,樣品無(wú)任何形式的變化。
直觀:實(shí)時(shí)譜圖,可直觀顯示元素含量。
測(cè)試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U。
可靠性高:由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為干擾因素,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測(cè)量的可靠性更高。
滿足不同需求:測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強(qiáng)大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種先進(jìn)的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。
性價(jià)比高:相比化學(xué)分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡(jiǎn)易:對(duì)人員技術(shù)要求較低,操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。
江蘇一六儀器 選擇X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀的四個(gè)理由:
1、無(wú)損檢測(cè)
鍍層工藝的高要求,讓楔切法、光截法等傳統(tǒng)的破壞性檢測(cè)方法越來(lái)越不適用,市場(chǎng)上迫切需要一種快速、準(zhǔn)確、無(wú)損的檢測(cè)方法,而X射線熒光光譜法無(wú)非是excellent鍍層無(wú)損檢測(cè)方法。
2、強(qiáng)化品質(zhì)管控
X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀可以準(zhǔn)確檢測(cè)鍍層的金屬含量及厚度等數(shù)據(jù),這是做好電鍍品質(zhì)管控的前提。
3、提升生產(chǎn)力
傳統(tǒng)的檢測(cè)技術(shù),既耗時(shí)又耗人力,而X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀可以很大程度上解放勞動(dòng)力,且檢測(cè)速度快、精度高,這對(duì)提高電鍍企業(yè)生產(chǎn)力、節(jié)約成本有很大幫助,從而帶來(lái)更多的經(jīng)濟(jì)效益。
4、提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力
X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀不但可以幫助電鍍企業(yè)提升勞動(dòng)生產(chǎn)力,也可以幫助電鍍企業(yè)在行業(yè)里保持excellent的競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。


