一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測(cè)厚儀可調(diào)整測(cè)量位置，非常敏捷快速?；蚴菧y(cè)量位置已完成登陸時(shí)，可連續(xù)自動(dòng)測(cè)定，利用座標(biāo)補(bǔ)正、連結(jié)頻道，來(lái)應(yīng)付各種測(cè)量軌跡。亦可用自動(dòng)測(cè)定來(lái)作標(biāo)準(zhǔn)片校正。

　　測(cè)定部顯示盡像的表示：X線(xiàn)照射部可由WINDOWS畫(huà)面上取得照射部的表示。從準(zhǔn)儀照射測(cè)定物的位置，可由倍率率更機(jī)能來(lái)實(shí)現(xiàn)盡面上測(cè)出物放大。。。

江蘇一六儀器    X熒光光譜測(cè)厚儀  專(zhuān)業(yè)涂鍍層測(cè)厚

應(yīng)用領(lǐng)域：廣泛應(yīng)用于線(xiàn)路板、引線(xiàn)框架及電子元器件接插件檢測(cè)、鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析、手表、精密儀表制造行業(yè)、

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽車(chē)、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)、衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)。

     江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

     X射線(xiàn)熒光光譜測(cè)厚儀原理

    一個(gè)內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為 (10)-12-(10)-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個(gè)過(guò)程稱(chēng)為馳豫過(guò)程。005um江蘇一六儀器X熒光光譜測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)X射線(xiàn)熒光能譜儀沒(méi)有復(fù)雜的分光系統(tǒng)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。馳豫過(guò)程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí)，所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，此稱(chēng)為俄歇效應(yīng)，亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)輻射效應(yīng)，所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。

     它的能量是特征的，與入射輻射的能量無(wú)關(guān)。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收，而是以輻射形式放出，便產(chǎn)生X射線(xiàn)熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，X射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的，與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國(guó)際上先進(jìn)的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測(cè)試精度更高。 K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中 任一電子所填充，從而可產(chǎn)生一系列的譜線(xiàn)，稱(chēng)為K系譜線(xiàn):由L層躍遷到K層輻射的X射線(xiàn)叫Kα射線(xiàn),由M層躍遷到K層輻射的X射線(xiàn)叫Kβ射線(xiàn)……。

一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

江蘇一六儀器   X射線(xiàn)熒光光譜測(cè)厚儀在電鍍行業(yè)的應(yīng)用

     由于每一種元素的原子能級(jí)結(jié)構(gòu)都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線(xiàn)的能量也是特定的，稱(chēng)之為特征X射線(xiàn)。通過(guò)測(cè)定特征X射線(xiàn)的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線(xiàn)的強(qiáng)弱（或者說(shuō)X射線(xiàn)光子的多少）則代表該元素的含量或厚度。

      PCB線(xiàn)路板主要有鍍金，鍍鎳，鍍銅，鍍銀，鍍錫等種類(lèi)。其電鍍工藝流程如下：

浸酸→全板電鍍銅→圖形轉(zhuǎn)移→酸性除油→二級(jí)逆流漂洗→微蝕→二級(jí)浸酸→鍍錫→二級(jí)逆流漂洗→浸酸→圖形電鍍銅→二級(jí)逆流漂洗→鍍鎳→二級(jí)水洗→浸檸檬酸→鍍金→回收→2-3級(jí)純水洗→烘干。

      對(duì)于PCB生產(chǎn)企業(yè)來(lái)說(shuō)，厚度的有效控制能做到有效的節(jié)約成本，又能滿(mǎn)足客戶(hù)需求，做到耐氧化、耐磨等。而X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚法是PCB工業(yè)檢測(cè)電鍍厚度的有效手段。下面介紹一款x射線(xiàn)熒光膜厚測(cè)厚儀XTU-BL。利用XRF無(wú)損分析技術(shù)檢測(cè)鍍層厚度的儀器就叫X射線(xiàn)測(cè)厚儀，又膜厚測(cè)試儀，鍍層檢測(cè)儀，XRF測(cè)厚儀，PCB鍍層測(cè)厚儀，金屬鍍層測(cè)厚儀等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線(xiàn)能同時(shí)實(shí)現(xiàn)多鍍層厚度分析。在實(shí)際應(yīng)用中，多采用實(shí)際相近的鍍層標(biāo)注樣品進(jìn)行比較測(cè)量（即采用標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)法進(jìn)行對(duì)比測(cè)試的方法）來(lái)減少各層之間干擾所引起的測(cè)試精度問(wèn)題。