FE3000反射式膜厚量測(cè)儀:產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。、高再現(xiàn)性量測(cè)紫外到近紅外波長(zhǎng)反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長(zhǎng)及步值，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量

電流-量子效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標(biāo)曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢！

基本規(guī)格

(1) 測(cè)試樣品及環(huán)境

(a) 樣品：粉狀樣品

(2) 儀器的功能

(a) 激發(fā)熒光樣品，對(duì)熒光光譜進(jìn)行測(cè)試。

(b) 為了消除積分球內(nèi)反射的激發(fā)光而激發(fā)的熒光，配有“再激發(fā)修正”功能。

(c) 具有對(duì)樣品的量子效率、反射、吸收作測(cè)試的功能。

(d) 樣品設(shè)置采用手動(dòng)方式。

(e) 可實(shí)現(xiàn)控溫和量子效率測(cè)試同步進(jìn)行的功能。

(3) 儀器的構(gòu)成

(a) 暗箱內(nèi)部置有積分球光學(xué)系統(tǒng)。

(4) 溫控單元

(a) 50 ℃～300℃(cell部分)

(b) 采用加熱器加熱、風(fēng)冷制冷。

(c) 溫控部分的周圍采用冷卻水循環(huán)、斷熱。

(d) 控制用溫度探頭是一個(gè)具備獨(dú)立的防止過(guò)度升溫的溫度探頭。

熒光材料樣品所反射的激發(fā)光，在積分球內(nèi)壁上反射，并再次照射到熒光材料樣品上，發(fā)出熒光的現(xiàn)象叫做再激發(fā)。為了修正這個(gè)熒光發(fā)光的成份，如圖所示，改變Xe激發(fā)光（投光用光纖）的角度，將激發(fā)光的照射點(diǎn)改為樣品口的硫i酸鋇（或Spectralon）一面來(lái)進(jìn)行測(cè)試。這樣可以將對(duì)積分球內(nèi)壁上漫反射引起的再激發(fā)熒光成份進(jìn)行測(cè)試，實(shí)行修正。