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發(fā)布時(shí)間:2021-09-08 19:15  
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電子元器件加速向精細(xì)化、微型化和復(fù)雜化方向發(fā)展之后,眾多從事電子制造的企業(yè)為了減少產(chǎn)品瑕疵,保證良品率,企業(yè)通常都會(huì)選擇x ray檢測(cè)設(shè)備作為企業(yè)檢測(cè)強(qiáng)有力的支撐。
這種趨勢(shì)的出現(xiàn)不一定是因?yàn)樾枰狿CB組件變得更小,而是因?yàn)樾略O(shè)計(jì)大幅采用了更多的隱藏了焊接連接的球柵陣列封裝(BGA)和其他器件,比如方形扁平無(wú)引腳封裝(QFN)和柱柵陳列封裝(LGA)。與較大的有引腳封裝相比,這類(lèi)器件通常在性能和成本方面具有一定優(yōu)勢(shì),所以更小更密的趨勢(shì)可能會(huì)繼續(xù)保持。x ray檢測(cè)設(shè)備勢(shì)必會(huì)繼續(xù)勢(shì)如破竹。
功能測(cè)試。FT能夠有效地查找在SMT組裝過(guò)程中發(fā)生的各種缺陷和故障。檢測(cè)快,迅速,使用簡(jiǎn)單,投資少,但不能自動(dòng)診斷故障,不適合大批量檢測(cè)。
X-Ray檢測(cè)技術(shù)顯著特征:根據(jù)對(duì)各種檢測(cè)技術(shù)和設(shè)備的了解,X-ray檢測(cè)技術(shù)與上述幾種檢測(cè)技術(shù)相比具有更多的優(yōu)點(diǎn)。它可使我們的檢測(cè)系統(tǒng)得到較高的提升。為我們提高"一次通過(guò)率"和爭(zhēng)取"沒(méi)有缺陷"的目標(biāo),提供一種有效檢測(cè)手段。