蔡司三坐標測量機

三坐標測頭

如果不事先定義和校準測頭，軟件系統(tǒng)本身是無法獲知所使用的探針類型和測量的角度。測量得到的數(shù)據(jù)結(jié)果自然是不正確的。因此，必須要對所使用的測頭進行校驗，使得軟件知道所配置的探針情況，包括探針數(shù)量、方位、探針半徑及探針球心的相互位置關(guān)系。并且了解所使用探針的精度狀況，做到及時更換以確保實現(xiàn)測量的精度要求。

需要注意的事

三坐標測量機在測量零件時，是用探針的寶石球與被測零件表面接觸，接觸點與系統(tǒng)傳輸?shù)膶毷蛑行狞c的坐標相差一個寶石球的半徑，需要通過校驗得到的探針的實測半徑值，對測量結(jié)果補償修正。

在選擇三坐標測頭的過程中，常常出現(xiàn)是由預(yù)算決定配置，從而導(dǎo)致配置過?；蛘吲渲貌蛔愕膶擂吻闆r。

配置三坐標測量機的測頭時，實際會面臨來自多個方面的選擇困難，比如“固定式還是旋轉(zhuǎn)式”、“掃描測頭還是觸發(fā)測頭”、“三軸聯(lián)動還是五軸聯(lián)動”、“接觸式測頭還是光學(xué)測頭”等等，而且還逃不開預(yù)算的限制。雖然后一項因素有時能夠起到一票否決的作用，但我們有必要從技術(shù)角度了解各類測頭的特點及適用場合和限制，以便在綜合條件下能夠選到適宜的測頭，滿足測量要求。

在得到了數(shù)字化表面模型后，用戶可以把數(shù)據(jù)用于各種目的，比如和CAD模型做對比，獲取零件整體/局部輪廓的偏差，三維尺寸測量或者逆向工程等等。但是這種測量方式用于尺寸與行為公差測量時，通常無法符合測量工藝流程的要求(如建立測量基準、選擇元素擬合方法、選取評價參考等等)。但是，有的零件或出于零件特殊性，如軟性材質(zhì)、不允許接觸的表面、微小特征等，或出于測量效率的要求，確實需要非接觸式測量。對于此類應(yīng)用，點光源測頭也很好彌補了接觸式測頭的不足。

光學(xué)測頭雖然有一些接觸式測頭無法提供的優(yōu)勢，但并無法完全替代接觸式測頭，其原因在于光線的可觸及性不如接觸式測頭。測球的各個部位都可以去接觸被測物體來采點，但光的傳播是沿直線的，我們無法讓光“轉(zhuǎn)彎”，必然有一些特征讓光線力所不能及，比如徑深比很小的孔、或是需要L型測針的場合，接觸式測頭比光學(xué)測頭更方便。

沒有好的測頭，究竟怎么選擇還是取決于測量需求。在繁多的測頭種類面前，應(yīng)該不只是以預(yù)算為導(dǎo)向，也不一定要追求全能型的測頭，找到真正合適的產(chǎn)品，才能既快又好地做好質(zhì)量控制。