一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀，穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，獨特聚焦和變距設(shè)計，多元EFP算法，涂層測厚儀，簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

涂層測厚儀操作規(guī)程有哪些

   我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規(guī)程，寧波測厚儀，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴重的可能會對自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測厚儀的操作規(guī)程有哪些，光譜膜厚儀，下面就來了解下先：

  一、技術(shù)參數(shù)

  采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應(yīng)的測頭，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；

  測量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測頭），膜厚測試儀，F(xiàn)10測頭可達10mm；

  分辨率：0.1μm（F1、N1測頭）

  示值精度：±（3％H 1）μm；H為被測涂層厚度

  顯示方法：高對比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；

  存儲容量：可存儲20組（每組多50個測量數(shù)值）測量數(shù)據(jù)

  單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉(zhuǎn)換 ? 工作電壓：3V（2節(jié)5號堿性電池）

  持續(xù)工作時間：大于200小時（不開背光燈）

  通訊接口：USB1.1，可與PC機連接、通訊

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當X射線激發(fā)出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

江蘇一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，獨特聚焦和變距設(shè)計，多元EFP算法，簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測厚儀的應(yīng)用：

1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，達到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工

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