ICP光譜儀如何保養(yǎng)？

ICP光譜儀的氣體控制系統(tǒng)的維護(hù)，首先要做氣體試驗(yàn)，打開(kāi)氣體控制系統(tǒng)的電源開(kāi)關(guān)，使電磁閥處于工作狀態(tài)，然后開(kāi)啟氣瓶及減壓閥，使氣體壓力指示在額定值上，然后關(guān)閉氣瓶，觀察減壓閥上的壓力表 指針，應(yīng)在幾個(gè)小時(shí)內(nèi)沒(méi)有下降或下降很少，否則氣路中有漏氣現(xiàn)象，需要檢查和排除。2、從樣品激發(fā)到計(jì)算機(jī)報(bào)出元素分析含量只需20-30秒鐘,速度非?？?有利于縮短冶煉時(shí)間,降低成本。

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ICP光譜儀是什么構(gòu)成的？

一臺(tái)典型的ICP光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：

1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。

2. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。

5. 探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類(lèi)的光探測(cè)器陣列。

ICP光譜儀的校正

ICP光譜儀校正的目的是消除環(huán)境溫度造成的光學(xué)系統(tǒng)漂移與機(jī)械震動(dòng)造成的機(jī)械位移。通常，在儀器安裝調(diào)試過(guò)程中首先要進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)校正；ICP光譜儀的使用或管理人員不明白電子常識(shí)，不了解儀器構(gòu)造，不要容易去動(dòng)，避免發(fā)生意外，除塵應(yīng)事前停機(jī)并關(guān)掉供電電源下進(jìn)行。在儀器正常使用過(guò)程中根據(jù)環(huán)境溫度的條件適當(dāng)進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)校正。 在PRODIGY儀器中，由于儀器本身有恒溫系統(tǒng)，操作人員只要控制儀器達(dá)到恒溫條件，即可正常進(jìn)行分析測(cè)量，無(wú)須頻繁校正光學(xué)系統(tǒng)。

波長(zhǎng)校正

在使用任何一個(gè)元素、任何一個(gè)波長(zhǎng)進(jìn)行分析測(cè)量之前，都要做波長(zhǎng)校正。波長(zhǎng)校正的目的是：對(duì)事先存儲(chǔ)在譜線庫(kù)中的理論波長(zhǎng)坐標(biāo)位置進(jìn)行修正、保證實(shí)際使用的波長(zhǎng)坐標(biāo)位置準(zhǔn)確。

儀器安裝調(diào)試以后，波長(zhǎng)校正不需要經(jīng)常做。如果實(shí)驗(yàn)室溫度變化較大，應(yīng)適當(dāng)進(jìn)行波長(zhǎng)校正。

ICP光譜法的優(yōu)點(diǎn)

1. 因?yàn)镮CP光源具有良好的原子化、激發(fā)和電離能力，所以它具有很好的檢出限。對(duì)于多數(shù)元素，其檢出限一般為0.1～100ng/ml。

2. 因?yàn)镮CP光源具有良好的穩(wěn)定性，所以它具有很好的精密度，當(dāng)分析物含量不是很低即明顯高于檢出限時(shí)，其RSD一般可在1%以下，好時(shí)可在0.5%以下。

3. 因?yàn)镮CP發(fā)射光譜法受樣品基體的影響很小，所以參比樣品無(wú)須進(jìn)行嚴(yán)格的基體匹配，同時(shí)在一般情況下亦可不用內(nèi)標(biāo)，也不必采用添加劑，因此它具有良好的準(zhǔn)確度。這是ICP光譜法的優(yōu)點(diǎn)之一。