欲測知元件老化，所須提供的測量范圍為何？功率模塊的VCE-IC特性曲線會隨著器件使用年限的增加而變化，飽和壓降Vcesat會逐漸劣化。 當大功率元件在作導通參數(shù)的測試時，電流必須大到其所能承受的正常工作值，同時，在作關閉參數(shù)的漏電流測試時，電壓也必須夠高，以元件在真正工作狀態(tài)下的電流與電壓，如此其老化的程度才可顯現(xiàn)。當這兩個參數(shù)通過后，便表示元件基本上良好，再進一步作其他參數(shù)的測量，以分辨其中的優(yōu)劣。建議進行高溫測試，模擬器件使用工況，更為準確的判斷器件老化程度。

測試的IGBT參數(shù)包括：ICES（漏流）、BVCES（耐壓）、IGESF（正向門極漏流）、IGESR（反向門極漏流）、VGETH（門檻電壓／閾值）、VGEON（通態(tài)門極電壓）、VCESAT（飽和壓降）、ICON（通態(tài)集極漏流）、VF（二極管壓降）、GFS（跨導）、rCE（導通電阻）等全直流參數(shù), 所有小電流指標保證1%重復測試精度, 大電流指標保證2%以內(nèi)重復測試精度。測試條件中待輸入的數(shù)字，必須依照元件生產(chǎn)廠所提供的規(guī)格來輸入，而測量結(jié)果，亦必須在其所規(guī)定的限額內(nèi)，否則，便為不良品。

半導體元件全自動測試系統(tǒng)，可以元件在真正工作狀態(tài)下的電流及電壓，并測量重要參數(shù)的數(shù)據(jù)，再與原出廠指標比較，由此來判定元件的好壞或退化的百分比。每個電流模塊，都具有獨立的供電系統(tǒng)，以便在測試時，提供內(nèi)部電路及電池組充電之用；半導體元件除了本身功能要良好之外，其各項參數(shù)能否達到電路上的要求，必須定期測量，否則產(chǎn)品的質(zhì)量特性很難保證，尤其是較大的功率元件，因具有耗損性，易老化及效率降低，因不平衡導致燒毀，甚至在使用中會發(fā)生。 可選購外部高壓模塊，執(zhí)行關閉狀態(tài)參數(shù)測試如：各項崩潰電壓與漏電流測量達2KV。

?航空、電子信息等領域——應用本公司測試系統(tǒng)可對所應用到的元器件，尤其對現(xiàn)代新型IGBT大功率器件的全參數(shù)進行智能化測試、篩選、分析，以確保出廠產(chǎn)品的穩(wěn)定性、可靠性；

?機車、汽車、船舶控制系統(tǒng)生產(chǎn)廠——應用本公司測試系統(tǒng)可對所應用到的元器件，尤其對

?現(xiàn)代新型IGBT大功率器件的全參數(shù)進行智能化測試測試、篩選、分析，以確保出廠產(chǎn)品的穩(wěn)定性、可靠性；

?水力、電力控制系統(tǒng)生產(chǎn)廠——應用本公司測試系統(tǒng)可對所應用到的元器件，尤其對現(xiàn)代新

?型IGBT大功率器件的全參數(shù)進行智能化測試測試、篩選、分析，

?以確保出廠產(chǎn)品的穩(wěn)定性、可靠性。

?優(yōu)勢行業(yè)：電力設備、地鐵、鐵路動力車組和運用大功率半導體器件進行設計、制造的行業(yè)。

1）可調(diào)充電電壓源

用來給電容器充電，實現(xiàn)連續(xù)可調(diào)的直流母線電壓，滿足動態(tài)測試、短路電流的測試需求。

?輸入電壓 380V±10%

?頻率 50HZ；

?輸出電壓 500～1500V可調(diào)（可多個電源組成）

?輸出電流 10A；

?電壓控制精度 1%

?電壓調(diào)整率 <0.1%；

?紋波電壓 <1%；

?工作溫度 室溫～40℃；

?保護 有過壓、過流、短路保護功能。