2.5次元影像測量儀與二次元影像儀的區(qū)別有哪些呢？

2.5次元測量儀，是指在二次元的基礎(chǔ)上，以光學(xué)影像測量可測高度及深度，或者在鏡頭上加個(gè)測針，用光學(xué)鏡頭測量平面尺寸、用測針進(jìn)行接觸式測量可測深度，達(dá)到3維測量的效果，但此3維測量僅是簡易的3D測量，未能真正地實(shí)現(xiàn)3維全部空間尺寸的測量，因此被稱為2.5次元。

適用于各種材料的非接觸式三維表面分析NanoFocus測量系統(tǒng)能夠快速、有效地對幾乎所有材料——從金屬、玻璃、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物到有機(jī)材料——進(jìn)行三維表面分析。共焦技術(shù)能夠測量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測量數(shù)據(jù)。采用NanoFocus技術(shù)的μsurf、μscan和μsprint能夠在生產(chǎn)和加工的不同階段對敏感表面進(jìn)行無損測量，透明涂層表面和層厚也可以同時(shí)測量。

無需樣品制備即可在幾秒鐘內(nèi)獲取真正的3D數(shù)據(jù)，進(jìn)而對表面進(jìn)行定性和定量的評估。NanoFocus為測量數(shù)據(jù)的分析提供了強(qiáng)大的綜合軟件解決方案以便確定相關(guān)參數(shù)。

一、三維表面形貌儀測量原理：低相干白光同時(shí)照射樣品和參考平面，被樣品和參考平面反射的兩束白光發(fā)生干涉后由陣列式CMOS探測器接收，由于探測器直接與信號處理芯片（Smart Pixel技術(shù)）連接，所以陣列上每個(gè)像素點(diǎn)的信號都在芯片中完成鎖相放大，背景信號補(bǔ)償和結(jié)果計(jì)算輸出，成像于計(jì)算機(jī)就實(shí)現(xiàn)了樣品表面的快速三維形貌測量。    二、三維表面形貌儀技術(shù)特點(diǎn)：    1、每秒一百萬張二維圖像    2、無損表面形貌檢測和分析    3、高精度在線/離線檢測    4、模塊化設(shè)計(jì)，超高集成靈活性    5、無需苛刻的工作環(huán)境（振動(dòng)，噪聲，溫度等）    6、可應(yīng)用于科研和工業(yè)領(lǐng)域


三維表面形貌儀應(yīng)用領(lǐng)域：      工業(yè)：   食品安全在線檢測   微電子集成電路表面形貌在線檢測   印刷電路板品質(zhì)檢測   零件器件表面劃痕損傷檢測   微機(jī)械精加工質(zhì)量控制，如鐘表，微機(jī)械器件等   電子產(chǎn)品零件在線監(jiān)控，如手機(jī)，筆記本電腦，平板等   微流體器件三維形貌檢測   在線檢測設(shè)備集成   證件防偽，安檢    科研：   MEMS器件   微機(jī)械零件表面形貌觀察和測量   微光學(xué)器件（太赫茲、紅外、微波、天線陣列）三維形貌表征   生命科學(xué)：生物組織/生物體的 三維形貌測量   偵l查取證：表面劃痕觀察，微小證據(jù)三維形貌快速表征