大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

膜厚儀的工作原理

涂鍍層測厚儀的相關(guān)工作原理之近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制丈量信號。邊緣效應不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。還采用專利設計的集成電路，引入微機，使丈量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的進步(幾乎達一個數(shù)目級)。現(xiàn)代的磁感應測厚儀，分辨率達磁感應測厚儀_電渦流丈量原理_磁吸力丈量原理及測厚儀_電渦流原理的測厚儀到0.1um，答應誤差達1%，量程達10mm。

如何使用膜厚儀測量的更加準確

基體金屬特性對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

基體金屬厚度

檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資1源網(wǎng) 如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。

邊緣效應

不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。