大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

產(chǎn)品特點(diǎn)：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動(dòng)檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個(gè)波長的相位差量測?？蛇x配傾斜式、旋轉(zhuǎn)式量測平臺(tái)，評估三次元折射率參數(shù)解析等視野角特性。配合量測樣品，自由架構(gòu)量測平臺(tái)。

相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點(diǎn)：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動(dòng)檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個(gè)波長的相位差量測。

光學(xué)薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、別的光學(xué)資料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強(qiáng)誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動(dòng)大型Ｘ－Ｙ平臺(tái)以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。

  本Software自動(dòng)制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個(gè)Sample品種，會(huì)準(zhǔn)備Recipe（測量條件File）所以O(shè)perator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實(shí)現(xiàn)測量。