此設備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。

粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，的ZETA電位測量，容量是130μL～的一次性cell。

用途：

陶瓷?色材工業(yè)領域

陶瓷（二氧化硅?氧化鋁?氧化鈦等）

無極膠體溶液的表面改質?分散?凝集控制

顏料（炭黑?有機顏料）的分散?凝集控制

懸濁狀樣品

彩色膜

浮遊選礦物的捕集材吸著的研究

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

ELSZ-2000Z

測量原理 雷射都卜勒法（Laser Doppler）

光源 高功率、高穩(wěn)定性半導體鐳射

感光元件 高感度APD

樣品容器 標準樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器

溫度范圍 0 ~ 90℃ （具備梯度功能）

電源規(guī)格 100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz

尺寸 380（W） × 600（D） × 210（H）mm

重量 約22kg

適用于界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、藥學、醫(yī)學領域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學的基礎研究、應用研究。

新功能性材料領域

燃料電池相關（碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬）

生物納米相關（納米、人造分子、DDS、生物納米粒子）、納米氣泡等

半導體領域

查明附著在硅體晶圓的異物的結構

研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究

CMP懸濁液