大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

什么是液晶分子預(yù)傾角以及液晶分子預(yù)傾角對電光特性的影響，說明了精準(zhǔn)測量液晶分子預(yù)傾角對現(xiàn)有液晶顯示器生產(chǎn)和進一步研究液晶顯示技術(shù)有著重要的意義。緊接著文章對現(xiàn)有的液晶分子預(yù)傾角測量方法進行了概述，并且給出了幾種創(chuàng)新性的測量方法。 晶體旋轉(zhuǎn)法是目前廣泛使用的方法，它測試精度高，測試速度快，得到人們的認可。

相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

光學(xué)薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、別的光學(xué)資料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計測模組和透過偏光光學(xué)系相結(jié)合進行測定橢圓率，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測定，進而演算其吸收軸，光軸，相對角、RE的裝置。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。

  本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種，會準(zhǔn)備Recipe（測量條件File）所以O(shè)perator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實現(xiàn)測量。