同方迪一分析高頻和低頻瓷片電容二者的差異比較

二者的差異比較　　

二者不同類型的瓷片電容規(guī)格識別可以直接通過電容器或者是電路來進行判斷。一般來說可以耐受高壓，絕緣性比較好，而且比較可靠，運用于高壓電路中的就屬于高頻瓷片電容。而低頻瓷片電容相比較而言可靠性以及成本都比較低，多數(shù)時候都是運用于一些低頻電路以及耦合電路等的電容器中。

高壓瓷片電容耐電壓的測試條件

1，測試設備

交流耐電壓的測試設備應具有能夠產生類似于50/60Hz正弦波的性能，如果施加變形的正弦波或超過規(guī)定電壓值的過載電壓,則可能會導致故障。

2，電壓外加方法

施加耐電壓時，電容器的引線或端子應與耐電壓測試設備的輸出端連接牢固;然后再將電壓從近零增加到測試電壓，如果測試電壓不從近零逐漸提高而是直接施加在電容器上，則施加時應包含過零點。測試結束時，測試電壓應降到近零;然后再將電容器引線或端子從耐電壓測試設備的輸出端取下，如果測試電壓不從近零逐漸提高而是直接施加在電容器上，則可能會出現(xiàn)浪涌電壓，從而導致故障.0V電壓正弦波過零點是指電壓正弦通過0V的位置。

3，失效安全性

當電容器損壞時，失效可能會導致短路，為了避免在短路時引起觸電，冒煙，火災等危險情況，請在電路中使用熔絲等元件來設置自動防故障功能，使用本產品時如忽略上述警告事項，在嚴重情況下可能導致短路，并引起冒煙或局部離散。

高壓陶瓷電容器的適用頻率

高壓陶瓷電容器的容量和散逸因素會因頻率的不同而不同，在某頻率下的C與DF變化很大，以致超出我們的規(guī)格值，則該電容器就不適于在這頻率來使用。

頻率對電容量的影響：

我們知道：容量系是由分極而來，分極需要時間，設若電容器的分極時間需要很長，但用于一高頻電路中，頻率變化的速度比極化時間來得快，則尚未等到電容器極化，極性又發(fā)生變化。后介質的分極作用窮于應付，而發(fā)生電容器無法達到預定容量而產生不良。

頻率對散逸因素的影響：

我們知道：散逸因素是由于等效串聯(lián)電阻所形成。

其中：f為頻率。

因此，發(fā)熱量是受頻率直接影響的，即若 大，則發(fā)熱量大；發(fā)熱量大，則以將造成等效串聯(lián)電阻的增加，也就使DF增大。這就是DF為何會隨頻率的增加而增大的原因，若此陶瓷電容器的發(fā)熱量比散熱量大，則終必造成不好的循環(huán)，而破壞陶瓷電容器。